人人舔人人射,99免费精品,亚洲国产精品视频,96免费视频,边摸边吃奶边做爽免费视频99

銷(xiāo)售咨詢(xún)熱線(xiàn)：
13912479193
產(chǎn)品中心
首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > > 元器件高低溫測試機 > 半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試

半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試

簡(jiǎn)要描述：半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試的典型應用：
適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

  • 產(chǎn)品型號：TES-4555
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間：2024-01-01
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量：904
詳情介紹
品牌LNEYA/無(wú)錫冠亞產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域石油,能源,電子,汽車(chē),電氣

 

元器件測試用設備

 

適合元器件測試用設備

在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

 

元器件測試用設備

 

無(wú)錫冠亞積探索和研究元件測試系統，主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求，解決了電子元器件中溫度控制滯后的問(wèn)題，超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。

 

型號KRY-455
KRY-455W		KRY-475
KRY-475W		KRY-4A10
KRY-4A10W		KRY-4A15
KRY-4A15W		KRY-4A25
KRY-4A25W		KRY-4A38WKRY-4A60W
溫度范圍-40℃～+100℃
控溫精度±0.5℃
溫度反饋Pt100
溫度顯示0.01k
流量輸出1～10L/min1～25L/min1～25L/min1～40L/min1～40L/min5～50L/min5～50L/min
關(guān)于流量說(shuō)明/當溫度低于-30度時(shí)，大流量為25L/min當溫度低于-30度時(shí)，大流量為30L/min
流量控制精度±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min
壓力顯示采用江森自控壓力傳感器，觸摸屏上顯示壓力,可進(jìn)行壓力控制調節　
加熱功率5.5kW7.5kW10kW10kW
選配15kW		15kW
選配25kW		25kW
選配38kW		38kW
選配60kW
制冷量100℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
20℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
0℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
-20℃2.8kW4.5kW6kW10kW16kW25kW35kW
-35℃1.2kW1.8kW2.5kW4kW6.5kW10kW15kW
壓縮機艾默生谷輪渦旋柔性壓縮機
膨脹閥艾默生/丹佛斯熱力膨脹閥
油分離器艾默生
干燥過(guò)濾器艾默生/丹佛斯
蒸發(fā)器丹佛斯/高力板式換熱器
輸入、顯示7寸彩色觸摸屏西門(mén)子S7-1200 PLC控制器
程序編輯可編制10條程序，每條程序可編制40段步驟
通信CAN通信總線(xiàn)
安全保護具有自我診斷功能；冷凍機過(guò)載保護；高壓壓力開(kāi)關(guān)，過(guò)載繼電器、熱保護裝置、低液位保護、高溫保護、傳感器故障保護等多種安全保障功能
是否為全密閉系統整個(gè)系統為全密閉系統，高溫時(shí)不會(huì )有油霧、低溫不吸收空氣中水份，系統在運行中不會(huì )因為高溫使壓力上升，低溫自動(dòng)補充導熱介質(zhì)。
制冷劑R404A/R507C
接口尺寸G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4
水冷型at25度1100L/H1500L/H2000L/H2800L/H4500L/H7000L/H12000L/H
水冷冷凝器帕麗斯/沈氏套管式換熱器
風(fēng)冷型冷凝器銅管鋁翅片換熱器（上出風(fēng)形式）
電源 380V50HZ12kW max15kW max20kW max29kW max42kW max58kW max84kW max
水冷尺寸cm55*95*17555*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185145*205*205
風(fēng)冷尺寸cm55*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185　　
重量250kg280kg320kg360kg620kg890kg1300kg
選配220V 60HZ三相  400V 50HZ三相  440V 60HZ三相
選配溫度擴展到-40℃～+135℃
選配更高精度控制溫度、流量、壓力
選配自動(dòng)加注防凍液系統
選配自動(dòng)液體回收系統

 

半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試

半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試

　　芯片成品測試（Final Test，也稱(chēng)終測），集成電路后道工序的劃片、鍵合、封裝及老化過(guò)程中都會(huì )損壞部分電路，所以在封裝、老化以后要按照測試規范對電路成品進(jìn)行電路性能檢測，目的是挑選出合格的成品，根據器件性能的參數指標分，同時(shí)記錄各的器件數和各種參數的統計分布情況；根據這些數據和信息，質(zhì)量管理部門(mén)監督產(chǎn)品的質(zhì)量，生產(chǎn)管理部門(mén)控制電路的生產(chǎn)。

IC測試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節，在IC生產(chǎn)過(guò)程中起著(zhù)舉足輕重的作用。IC測試是集成電路生產(chǎn)過(guò)程中的重要環(huán)節，測試的主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能*實(shí)現設計規格書(shū)所規定的功能及性能指標，每一道測試都會(huì )產(chǎn)生一系列的測試數據，由于測試程序通常是由一系列測試項目組成的，從各個(gè)方面對芯片進(jìn)行充分檢測，不僅可以判斷芯片性能是否符合標準，是否可以進(jìn)入市場(chǎng)，而且能夠從測試結果的詳細數據中充分、定量地反映出每顆芯片從結構、功能到電氣特性的各種指標。因此，對集成電路進(jìn)行測試可有效提高芯片的成品率以及生產(chǎn)效率。

 

元器件測試用設備

 

留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話(huà)：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細地址：

  • 補充說(shuō)明：

  • 驗證碼：

    請輸入計算結果（填寫(xiě)阿拉伯數字），如：三加四=7