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簡(jiǎn)要描述：【無(wú)錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。-105℃循環(huán)風(fēng)控溫裝置 FLTZ雙變頻系列
產(chǎn)品型號：LTS-202廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-01-11訪(fǎng) 問(wèn) 量：534| 品牌 | LNEYA/無(wú)錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區間 | 10萬(wàn)-50萬(wàn) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
| 儀器種類(lèi) | 一體式 | 應用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車(chē) |
主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。
半導體專(zhuān)溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專(zhuān)用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型
循環(huán)風(fēng)控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤(pán)
數據中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進(jìn)出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過(guò)增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-105℃循環(huán)風(fēng)控溫裝置 FLTZ雙變頻系列
-105℃循環(huán)風(fēng)控溫裝置 FLTZ雙變頻系列
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率??？焖?，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實(shí)時(shí)監控被測IC真實(shí)溫度,實(shí)現閉環(huán)反饋，實(shí)時(shí)調整?體溫度升降溫時(shí)間可控，程序化操作、?動(dòng)操作、遠程控制
檢查光模塊高低溫測試設備的電氣部件，包括電源、電纜、接線(xiàn)端子、傳感器等。確保電氣部件沒(méi)有過(guò)熱、松動(dòng)或損壞等問(wèn)題。如有異常，應及時(shí)維修或更換。
5、設備安全檢查
檢查光模塊高低溫測試設備的安全裝置，包括超溫保護、過(guò)載保護、漏電保護等。確保安全裝置完好無(wú)損，工作正常。如有異常，應及時(shí)維修或更換。
6、設備運行測試
定期進(jìn)行光模塊高低溫測試設備運行測試，以檢查設備的性能和可靠性。在測試過(guò)程中，應逐步增加溫度和濕度條件，并觀(guān)察設備的反應和讀數是否正常。如有異常，應及時(shí)排查問(wèn)題并修復。
7、記錄和維護記錄
對光模塊高低溫測試設備每次維護保養進(jìn)行記錄，包括檢查的項目、發(fā)現的問(wèn)題、采取的措施等。保持記錄的完整性和準確性，以便追蹤和管理設備的維護歷史。
總之，光模塊高低溫測試設備的維護保養是確保設備正常運行和使用壽命的節，通過(guò)定期檢查、清潔、維修和記錄等方法，可以有效地提升設備的性能和可靠性，降低故障率，從而為半導體芯片的研發(fā)和生產(chǎn)提供可靠的測試保障。
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